科技实验中心受激发射损耗显微技术理论及操作培训通知

受激发射损耗显微技术（Stimulated Emission Depletion Microscope，STED）是一种高分辨显微镜技术，它通过结合激光的受激发射和损耗过程实现超高分辨成像。受激发射损耗显微镜可呈现突破衍射极限的结构细节，最小分辨率可达50nm以下，可用于观察纳米级的亚细胞结构和动态变化，具有超高分辨率、快速扫描、多色观察、活细胞监测、厚组织标本3D重建、共定位分析等优势，是现代医学和细胞生物学研究的理想工具。