研究院实验&检测资源使用情况调研

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1.
请填写您的姓名
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2.
您所在的研发部门
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3.
目前您是否有参与本部门外的材料研发?
如同时参与了NCM材料和LCO材料的研发
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5.
目前您是否会在产线开展实验?
产线包含DCS、NX、NXS三地车间
是,完全在产线做实验
是,产线和实验室中都会开展
17.
您对于实验室实验资源是否还有其他需求?
如当前实验流程优化、新工序&设备需求等
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18.
您每月平均需要在DCS基地送检多少批理化测试样品?
含需要复测的历史样品
不包含过程粒度样品
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19.
您选择各个检测项的频率是多少?
单位:批/次
如平均每批1次粒度(选择1)、3批1次杂质S(选择3)、10批1次FIB(选择10)等
若送检频率过低或未送过某一检测项,请选择0
物化-粒度
物化-振实密度
物化-松装密度
物化-粉压&电阻
物化-休止角
物化-比表
物化-水分(KF 或 差重)
物化-pH
物化-残碱(酸碱 或 电位)
物化-主含量(原料、添加剂、合量等)
物化-C含量
物化-Cl含量
微量-分量(Ni含量、Ni/M等)
微量-磁性物质
微量-A-1
微量-黄铜
微量-胶带异物
微量-落尘
微量-金属比(Li/Me 或Na/Me)
微量-金属溶出(Fe、Cu、Co、Mn)
微量-杂质(Fe/Mg/Cu/Na/Ca/Ni/Mn/Co/Ti/Cr/Zn/Si/Pb/Cd/K/Ce/Ba/Sb)
微量-杂质(Al/S)
微量-杂质(Zr/B/Sr/W)
微量-杂质(P/Nb)
微量-杂质(Y/La/Mo)
SEM-普通
SEM-FEI
SEM-Phenom
SEM-PX
SEM-FIB
CP
颗粒耐压
XRD-常规
XRD-原位
STA
EPMA
EDS
异物-EDS
异物-水筛Cu
异物-B-1/B-2
异物-C-1/C-PX
异物-D-1/D-2/D-3/D-4
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20.
目前理化测试的非加急接样及结果发布速率是否满足您的检测需要?
23.
您对于理化检测资源是否还有其他需求?
如当前检测方法优化、新检测项开发等
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